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Jandel probes 四探針探頭

jandel四探針測試儀(yi) , 通過視頻檢測係統和光學幹涉儀(yi) 來驗證規範探針半徑曲率、間距以及平麵性（平麵度/平整度）, 其負荷是通過電子測力計來驗證。並且每個(ge) 探針都通過帶有寶石導向針進行上下移動。

Jandel公司生產(chan) 的cartridge型四探針探頭可用在客戶已有的設備,一些vekko設備,一些vekk設備需要不同形狀的探頭,(緊湊的探頭).當您無法確定使用哪種探頭時,請跟赫爾納貿易大連聯絡.所有jandel公司生產(chan) 的探頭具有非常高的機械精度。通過視頻檢測係統和光學幹涉儀(yi) 來驗證規範探針半徑曲率、間距以及平麵性（平麵度/平整度）, 其負荷是通過電子測力計來驗證。並且每個(ge) 探針都通過帶有寶石導向針進行上下移動。